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利用頻譜儀和TEM小室進行輻射干擾測量

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本文主要描述了如何解決基于超聲波倒車?yán)走_的輻射干擾測量問題。在開始的基于CISPER 25 第四類窄帶輻射測量中，該設(shè)備在530KHz-2MHz這個頻段測試沒通過合規(guī)標(biāo)準(zhǔn)。

此倒車?yán)走_由一個帶有蜂鳴器的控制器和兩個雷達模塊組成。接線主要包含連接控制器的主供電線纜以及控制器與兩個雷達模塊之間的通信及供電線纜。

由圖可見，紅色線表示CISPER 25第四類的模板*，藍色線表示實測譜線。在530KHz到1.1MHz的頻段范圍內(nèi)，測量出的輻射干擾超出了模板的*。同時，我們還測試了將連接雷達模塊線纜斷開的情況，發(fā)現(xiàn)仍然通不過標(biāo)準(zhǔn)。

分析

分析上圖的譜線我們可以得到一些信息：在低頻范圍內(nèi)，該設(shè)備的輻射噪聲是超出標(biāo)準(zhǔn)的，我們假定引起這個問題的，是一個低頻的數(shù)字信號。

相對較寬的頻譜，不含離散的譜線，意味著該超標(biāo)的頻譜噪聲來源很可能是來自于控制器本身或者控制器和雷達模塊之間的串行接口。

正如我們之前提到的，斷開控制器和雷達模塊之間的線纜，測試也沒通過，所以我們初步認(rèn)為，引起這個超標(biāo)的源頭在于控制器。

實測

頻譜分析儀，近場探頭，結(jié)合恒電磁波傳輸小室（簡稱TEM小室，Transverse Electromagnetic Transmission Cell）能作為識別輻射干擾根源的基本工具。本次測試我們采用鼎陽科技SSA3021X頻譜分析儀和選配的近場探頭以及TekBox的TEM小室。

首先我們打開頻譜分析儀然后設(shè)置如下：

SPAN設(shè)置為530KHz到2MHz；RBW設(shè)置為9KHz，衰減設(shè)置為0dB，顯示設(shè)置為電壓平均；打開頻譜儀標(biāo)配的預(yù)置放大器，并選用正峰值檢波器，測試結(jié)果如下:

在以上設(shè)置參數(shù)參考的情況下，顯示平均噪聲電平（DANL，Displayed Average Noise Floor）大約在-20dBμV 左右，這個指標(biāo)在同級別的頻譜儀中算是非常好的。 然而，我們還是需要考慮到在這個頻段范圍內(nèi)可能會有AM廣播信號的干擾。

接下來我們連接空的TEM小室，驗證以上猜想，顯示頻譜如下：

正如我們預(yù)想的那樣，在530KHz到1.1MHz這個頻段內(nèi)，基本被廣播信號填滿了（圖中可見的尖峰毛刺）。接下來我們需要弄清楚，待測設(shè)備DUT（Device Under Test）的輻射泄放的幅值在TEM空載的幅值之上還是之下。

DUT設(shè)置

接下來，將包括電纜和雷達模塊的DUT放置在TEM小室內(nèi)并通電：

在頻譜儀中設(shè)置跡線跟蹤為大保持，此時結(jié)果如下：

我們可以從圖中的波峰軌跡大致看出來，結(jié)果基本與初次在吸波暗室中測量的結(jié)果是相符的，盡管在此頻段范圍內(nèi)有一些AM廣播信號的干擾（圖中可見的一些毛刺）。

從圖中也可以看出，我們利用TEM小室測出的幅值大約比在吸波暗室中測得的結(jié)果低20dBμV左右。

然后同樣地，我們將和雷達連接的線纜移除，發(fā)現(xiàn)和之前在吸波暗室的測量結(jié)果一致，仍然未通過標(biāo)準(zhǔn)。

PS：為了簡便起見，線纜仍然和控制器保持物理連接，但已移動到TEM小室隔膜的另一端。

令人驚奇的是，我們發(fā)現(xiàn)，移除線纜降低了DUT的輻射噪聲：

移除線纜可以使輻射噪聲降低11dBμV左右。事實上，我們并未拆除線纜，但兩個雷達模塊已經(jīng)斷開連接。這也解釋了為什么譜線的波峰的相對幅度在吸波暗室和TEM小室的測量結(jié)果有所不同。線纜是直著放在吸波暗室中的，但在TEM小室中，它是卷曲的。

結(jié)論

移除線纜可以明顯觀察到DUT輻射噪聲的降低。盡管如此，即使我們移除兩個雷達線纜，測量結(jié)果仍然顯示未通過。事實上，在去掉雷達模塊的情況下，控制器也會不斷嘗試通過串行線纜進行通信----并且不會超時。因此，我們推測，連接雷達模塊和控制器之間的串行通信接口很有可能是導(dǎo)致該輻射噪聲超標(biāo)的罪魁禍?zhǔn)?。為了驗證我們的猜想，我們需要對通信接口做一些過濾。

由于鎳鋅鐵氧體磁導(dǎo)率比較低，在低頻段的使用性能不高，因此我們決定在線纜中串聯(lián)電阻。這算是一種非常實用的辦法，因為PCB上已經(jīng)安裝了0歐姆的串聯(lián)電阻。通過用1K歐姆的電阻替換0歐姆的電阻可以使輻射噪聲降低到12dBμV左右。但是，導(dǎo)致的結(jié)果卻是串行接口沒法可靠地工作在的電壓范圍內(nèi)。所以，我們還需要調(diào)整晶體管串行電路中的一些其他電阻，以解決輻射噪聲超標(biāo)問題，同時也能保證串行接口的性能。進行了一些修改并重新測量之后，結(jié)果顯示如下：

為了更清楚地展示這個變化，我們重新設(shè)置了頻譜儀的SPAN，使得其剛好在兩個相鄰的廣播頻道之間，意味著測量的頻譜結(jié)果幾乎沒有AM廣播信號的干擾。

如下是在修改之前的屏幕截圖：

通過截圖可知，修改后的輻射噪聲水平下降了12dBμV。

經(jīng)過修改后，我們重新在暗室進行了測量，以下是終測量結(jié)果的截圖：

利用頻譜儀和TEM小室來做輻射噪聲測試是一種非常經(jīng)濟實用的方法。要知道，專門用于EMC一致性測試的吸波暗室造價成本高達幾百萬，即使是送到專門的機構(gòu)測試， 也需要多次整改和測試，費用也不菲。

輻射噪聲一般具有相對較寬的頻譜范圍，沒有尖銳的波峰。盡管有一些廣播電臺的頻譜干擾，頻譜儀和TEM小室也能很好地對設(shè)備的輻射噪聲進行測試和觀察。

利用EMC近場探頭可以定位和識別PCB上的輻射泄露源，頻譜儀結(jié)合TEM小室可以對整改后的設(shè)備進行多次測試， 以判斷其是否符合EMC規(guī)范的標(biāo)準(zhǔn)。在對多個獨立單元以及線纜互聯(lián)的設(shè)備進行測試時也是非常實用的。

改進倒車?yán)走_這個案例需要進行多次反復(fù)整改才能找到既滿足EMC合規(guī)性標(biāo)準(zhǔn)，又能符合產(chǎn)品實際功能要求的理想解決方案。如果我們在每次整改之后，都要送到的暗室進行測量的話，成本是非常高昂的，遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過我們購買頻譜儀和TEM小室的預(yù)算。
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